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Glossary - technical measuring terms basically illustrated
Aberration, chromatique Absorption Acteur Ajuster Appareil de mesure Application ASIC ATEX Axe X Axe Y Axe Z Barrette CCD Bolomètre Bruit Bruit thermiqe Calandrage Calibrage CANopen capaNCDT Capteur Capteur de déplacement absolu Capteur laser Capteur pour haute température / résistant aux hautes températures Capteur à fil tendu Capteurs de distance Capteurs de distance Capteurs de déplacement Capteurs de position Capteurs optiques CENELEC Champs magnétiques, des capteurs inductifs Choc Cible Compatibilité électromagnétique (CEM) Constante / raideur du ressort Corps gris Courants de Foucault Courbe caractéristique Câble, exempe d'halogène DCAM Degré d'émission Degré de réflexion Device Net Diamètre de l'objet de mesure Diamètre du spot de mesure Diaphonie Directive CE Distande de travail DKD DMS Début de la plage de mesure, centre de la plage de mesure, fin de la plage de mesure Déclenchement eddyNCDT Electrode écran Elément thermique Emetteur Emetteur noir Emission parasitaire Encodeur Encodeur, absolu Encodeur, incrémental Erreur de quantification Ferro Ferro, non Fiche technique Firmware Focus FOV FPA Fréquence de mesure Fréquence limite Full duplex Guide d'onde optique HTL Hystérèse ICONNECT IFOV Inclinaison Indice de capacité processuelle Indice de capacité processuelle, le plus petit induSENSOR Interface RS232 Interface RS422 Interface RS485 Largeur de bande Largeur de l'électrode écran Lentille de verre / à gradient Linéarité Longueur d'onde Lumen, unité Lumières parasites, admises Lux, unité LVDS LVDT, Linear Variable Displacement Transducer Maître / esclave Mean Mesure de température IR Module CMU Modèle OSI Monochromatique Moyenne Médiane NETD Non-linéarité Objet à mesurer Offset optoCONTROL optoNCDT Plage de mesure Plage de mesure de température, infrarouge Plage de température Plage spectrale Point focal Polling ou appel à émettre Polychromatique Potentiomètre Principe de mesure confocal à codage chromatique Principe de mesure par temps de vol Procédé de mesure capacitif Profibus DP (PB) Protection contre les inversions de polarité Précision Rapport signal-bruit Rayonnement Rayonnement, spectral spécifique Rayonnement, spécifique Reproductibilité RTSC Récepteur Réflexion diffuse Réflexion directe Réflexion optique Réistance aux interférences Répétabilité Résistance aux courts-circuits Résistance à la traction Résistant aux hautes pressions Résolution Résolution à mieux que le pixel scanCONTROL SDK Semi-duplex Sensibilité Simplex SMD Sortie analogique Sortie numérique Spectre de fréquences SSI Stabilité thermique Stabilité à long terme Superficie de mesure active du capteur Synchronisation Taux d'échantillonnage Taux d'émission Taux de Baud Taux de mesure Taux de sampling Taux de transmission des données Temps de montée Temps de réaction Temps réel Température de référence Température de service Température de stockage thermoMETER Théorème d'échantillonnage Transmission Triangulation laser TTL Type de protection Type de protection laser Télémétrie Vibration wireSENSOR
Prochain salon:
MESUREXPO (Paris, FR)
06.10.2009 - 08.10.2009
Micro-Epsilon France S.a.r.l
+33 169 / 355 200
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