Select country / language
Plus de Précision
 

Capteurs
Systèmes des mesure
Applications

Glossary - technical measuring terms basically illustrated

Aberration, chromatique Absorption Acteur Ajuster Appareil de mesure Application ASIC ATEX Axe X Axe Y Axe Z
Barrette CCD Bolomètre Bruit Bruit thermiqe
Calandrage Calibrage CANopen capaNCDT Capteur Capteur de déplacement absolu Capteur laser Capteur pour haute température / résistant aux hautes températures Capteur à fil tendu Capteurs de distance Capteurs de distance Capteurs de déplacement Capteurs de position Capteurs optiques CENELEC Champs magnétiques, des capteurs inductifs Choc Cible Compatibilité électromagnétique (CEM) Constante / raideur du ressort Corps gris Courants de Foucault Courbe caractéristique Câble, exempe d'halogène
DCAM Degré d'émission Degré de réflexion Device Net Diamètre de l'objet de mesure Diamètre du spot de mesure Diaphonie Directive CE Distande de travail DKD DMS Début de la plage de mesure, centre de la plage de mesure, fin de la plage de mesure Déclenchement
eddyNCDT Electrode écran Elément thermique Emetteur Emetteur noir Emission parasitaire Encodeur Encodeur, absolu Encodeur, incrémental Erreur de quantification
Ferro Ferro, non Fiche technique Firmware Focus FOV FPA Fréquence de mesure Fréquence limite Full duplex
Guide d'onde optique
HTL Hystérèse
ICONNECT IFOV Inclinaison Indice de capacité processuelle Indice de capacité processuelle, le plus petit induSENSOR Interface RS232 Interface RS422 Interface RS485
Largeur de bande Largeur de l'électrode écran Lentille de verre / à gradient Linéarité Longueur d'onde Lumen, unité Lumières parasites, admises Lux, unité LVDS LVDT, Linear Variable Displacement Transducer
Maître / esclave Mean Mesure de température IR Module CMU Modèle OSI Monochromatique Moyenne Médiane
NETD Non-linéarité
Objet à mesurer Offset optoCONTROL optoNCDT
Plage de mesure Plage de mesure de température, infrarouge Plage de température Plage spectrale Point focal Polling ou appel à émettre Polychromatique Potentiomètre Principe de mesure confocal à codage chromatique Principe de mesure par temps de vol Procédé de mesure capacitif Profibus DP (PB) Protection contre les inversions de polarité Précision
Rapport signal-bruit Rayonnement Rayonnement, spectral spécifique Rayonnement, spécifique Referenzauflösung Reproductibilité RTSC Récepteur Réflexion diffuse Réflexion directe Réflexion optique Réistance aux interférences Résistance aux courts-circuits Résistance à la traction Résistant aux hautes pressions Résolution Résolution à mieux que le pixel
scanCONTROL SDK Semi-duplex Sensibilité Simplex SMD Sortie analogique Sortie numérique Spectre de fréquences SSI Stabilité thermique Stabilité à long terme Superficie de mesure active du capteur Synchronisation
Taux d'échantillonnage Taux d'émission Taux de Baud Taux de mesure Taux de sampling Taux de transmission des données Temps de montée Temps de réaction Temps réel Température de référence Température de service Température de stockage thermoMETER Théorème d'échantillonnage Transmission Triangulation laser TTL Type de protection Type de protection laser Télémétrie
Vibration
wireSENSOR
Télécharger
Newsletter
Inscrivez-vous à notre newslettre des techniques de mesure
Salons

Prochain salon:

Logo 16pxAutomatica (München, DE)
22.05.2012 - 25.05.2012
Logo 16pxSensor + Test (Nürnberg, DE)
22.05.2012 - 24.05.2012
Logo 16pxSINDEX (Bern, CH)
04.09.2012 - 06.09.2012
Afficher tous les salons
Contact

Micro-Epsilon France S.a.r.l

Nous avons déménagé!
Phone +33 139 102 100
Fax +33 139 739 657
eMail Envoyer un e-mail
france@micro-epsilon.com
Trouvez la personne compétente
 
FR France [FR] ENInternational [EN] DEDeutschland [DE] ENUnited Kingdom [EN] DESchweiz [DE] CZČeská republika [CZ] SKSlovenská republika [SK] RUРоссия [RU] ENAmerica [EN] CNChina [CN]
signet à cette page:
Mister Wong del.icio.us Google Yahoo! MyWeb reddit MySpace Facebook twitter
Protection des données & notices légales (juridiques) Mentions légales Plan du site
Micro-Epsilon France S.a.r.l.
14-16 rue des Gaudines / Strategy Center 78100 Saint Germain en Laye, France
france@micro-epsilon.com mobile phone icon
+33 139 102 100 phone icon
+33 139 739 657 fax icon