Plus de Précision.
 

Inspection des arêtes des tranches de semi-conducteurs

Détails

• Détection fiable des défauts d'aspect
•  3 à 5 mm de l'arête de la tranche
•  Système CB haute résolution
•  Détecte particules, fissures, cratères, défauts d'aspect ponctuels et allongés, corrosion, croissance cristalline, encrassements ou défauts de géométrie.
Vers le groupe de produits "Contrôle des semi-conducteurs"
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