Nouveau système de mesure d'épaisseur sur la base de capteurs confocaux

17/11/2016

Avec le thicknessCONTROL UTS 8X02.K, Micro-Epsilon introduit pour la première fois un système de mesure d'épaisseur sous forme de cadre en C, sur la base de capteurs confocaux. Une solution est proposée pour résoudre les nouvelles tâches de mesure dans l'industrie du plastique, alors que les systèmes précédents ne les maîtrisaient pas. Il dévoile ses atouts tout particulièrement sur les matériaux de bandes transparents et semi-transparents.

Le thicknessCONTROL UTS 8X02.K permet des mesures de haute précision sur les matériaux transparents et semi-transparents tels que les plaques en plastique, qui ne peuvent plus être guidées sur un rouleau, ou sur du verre revêtu, sur du métal et du métal poli brillant. Les précédents systèmes de mesure d'épaisseur sur la base de point laser, ligne laser ou capteurs à courants de Foucault, atteignaient alors leurs limites. Le réglage du temps d'exposition des capteurs confocaux intégrés permet la mesure fiable sur les surfaces aux aspects changeants. Les capteurs confocaux avec option multi-peak permettent de mesurer des objets composés de plusieurs couches transparentes. Les mesures s'effectuent sans contact, et sont exemptes de rétroaction à l'aide du principe de mesure confocal à codage chromatique, qui permet de mesurer les matériaux sensibles de manière fiable.

Le calibrage du système et l'ajustage avec un outil opto-électronique sont exécutés avant la livraison. La cible de calibrage intégrée permet un ajustement ultérieur. L'installation de mesure offre en plus un progiciel exhaustif pour l'analyse, l'affichage et l'archivage des données de production surveillées. Par ailleurs, il est possible de régler différents modes de mesure tels que la mesure d'épaisseur à voie fixe dans des positions quelconques, la mesure du profil d'épaisseur ou plusieurs tendances longitudinales.

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