Mesure d’épaisseur à l’aide de capteurs de déplacements

La mesure d’épaisseur à l’aide de capteurs de déplacements constitue un vaste champ d’application. On fait généralement la distinction entre la mesure d'épaisseur non-destructive/destructive, sans contact/avec contact et unilatérale/bilatérale. Les procédés de mesure d’épaisseur proposés par Micro-Epsilon étant tous exempts de rayonnements, aucune règle en matière de radiation ne doit donc être respectée.

La mesure d’épaisseur peut aussi bien être effectuée à l'aide de capteurs avec contact qu'à l'aide de capteurs sans contact. Cependant, les procédés de mesure sans contact présentent des avantages en termes de précision et de rapidité.

On distingue par ailleurs la mesure d’épaisseur unilatérale de la mesure d'épaisseur bilatérale. La mesure d’épaisseur bilatérale s’effectue à l'aide d'au moins une paire de capteurs montés face à face selon un axe. Cette paire de capteurs mesure l’objet de manière synchrone. La différence des résultats obtenus (C-A-B) correspond à l’épaisseur de l’objet.

La mesure d’épaisseur unilatérale s’effectue uniquement à l’aide de capteurs sans contact. L’objet est alors mesuré à l’aide d’un seul capteur qui détecte uniquement une partie de l’épaisseur de l’objet (p. ex. épaisseur des couches) ou l’épaisseur totale de l’objet.

Les systèmes de mesure d’épaisseur sont principalement utilisés dans le contrôle des procédés et le contrôle qualité, pour procéder p. ex. au réglage des extrudeuses ou au contrôle intégral des diamètres des tubes.