Distance et épaisseur mesurées rapidement par intensité lumineuse

28/06/2022

Micro-Epsilon a développé une nouvelle génération de contrôleurs confocaux avec les modèles confocalDT 2465 (version à un canal) et confocalDT 2466 (variante à deux canaux). Les contrôleurs sont utilisés pour des mesures de distance de haute précision, des mesures d'épaisseur synchrones et bilatérales et des mesures d'épaisseur multicouches d'objets transparents. La variante multi-peak peut détecter jusqu'à cinq couches transparentes. Pour les mesures d'épaisseur, une base de données de matériaux est disponible, dans laquelle les spécifications de l'objet à mesurer, comme les indices de réfraction, peuvent être enregistrées.

Les nouveaux modèles se distinguent par leur vitesse et leur forte intensité lumineuse permettant d’utiliser la fréquence de mesure dans son intégralité jusqu’à 30 kHz, sur de nombreuses surfaces. Même sur des surfaces sombres et rugueuses, les contrôleurs fournissent des signaux de mesure extrêmement stables à grande vitesse.

Les contrôleurs sont compatibles avec tous les capteurs de la série confocalDT. Une configuration simple est possible via l'interface web. La sortie des données de mesure s’effectue via Ethernet, EtherCAT, RS422 et de manière analogique. Une sortie via PROFINET et EtherNet/IP est également possible. A cet effet , un module d’interface en option est nécessaire.

Avantages

  • Des résolutions jusqu'au nanomètre
  • Idéal pour l'automatisation et la surveillance de la production
  • Compensation rapide de la surface pour la mesure sur presque tous les matériaux
  • Mesures de distance et d'épaisseur à grande vitesse jusqu'à 30 kHz
  • La remarquable intensité lumineuse permet des mesures rapides même sur des surfaces sombres et rugueuses
  • Jusqu'à cinq couches transparentes mesurables simultanément

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