Pour contrôler la qualité après le processus de sciage, une mesure fiable de l'épaisseur et de la structure est nécessaire pour les wafers solaires. Les capteurs de déplacement capacitifs de la série capaNCDT mesurent avec fiabilité et haute…
Le capteur confocal chromatique IFS2407-1,5 qui élargit la gamme de capteurs confocalDT et est utilisé pour la mesure très précise de déplacements et d'épaisseurs. Ce capteur dispose d'une plage de mesure de 1,5 mm pour un écartement de base de 17…
Le nouveau micromètre optoCONTROL 2700 offre une précision maximale pour l'assurance qualité en ligne. Il fournit une résolution numérique de ainsi qu'une linéarité de ≤ 1 µm. Il est utilisé pour la mesure de diamètres, de fentes, d'arêtes et de…